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閃存質(zhì)量檢測(cè)

U盤(pán)/閃存卡的質(zhì)量檢測(cè)

閃存卡的質(zhì)量好壞落差很大，不論您是買(mǎi)方或是賣(mài)方，都需要個(gè)有效率的方法來(lái)檢測(cè)并分類(lèi)隨身碟/閃存卡的質(zhì)量等級(jí)。以往，不論您最常使用的莫過(guò)于H2軟件，透過(guò)電腦，可以1支1支的檢測(cè)，但效率低，并且穩(wěn)定度易受數(shù)量及電腦的等級(jí)而影響，佑華科技，提供您7 種不同的質(zhì)量檢測(cè)方法，解決您任何關(guān)于質(zhì)量的疑難雜癥，并搭配上多核心傳輸技術(shù)，因此，你可以花同樣的時(shí)間，同時(shí)檢測(cè)上百只，大幅的提升出貨效率。

?H5 讀寫(xiě)檢測(cè) ：最全面且嚴(yán)謹(jǐn)?shù)钠焚|(zhì)檢測(cè)工具H3 只讀檢測(cè) ：全面讀取檢測(cè)，快速並可保存原有資料H6 品質(zhì)檢測(cè) ：與H2相同檢測(cè)方式，只針對(duì)資料空白區(qū)進(jìn)行檢測(cè)燒機(jī)測(cè)試：專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)工廠的最?lèi)?ài)，彈性設(shè)定不受限實(shí)際容量檢測(cè) ：只要2 秒鐘，檢測(cè)大量記憶卡/隨身碟的實(shí)際容量A2 假卡檢測(cè) ：挑出使用特殊軟體製作容量不足的記憶卡/隨身碟量測(cè)內(nèi)存速度：只要8 秒鐘，快速檢測(cè)閃存卡/U盤(pán)速度

檢測(cè)過(guò)程中，除了檢測(cè)讀寫(xiě)的壞塊，可同時(shí)搭配以下的設(shè)定

●最低讀寫(xiě)速度設(shè)定

●可容忍壞塊數(shù)量

●檢測(cè)范圍設(shè)定

并在檢測(cè)過(guò)后，可有效的得到以下的訊息

●檢測(cè)壞塊數(shù)量

●挑出讀寫(xiě)速度低于質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的卡

●挑出壞塊低于質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的卡

●實(shí)際卡片容量

業(yè)禮品 / 營(yíng)銷(xiāo)推廣 / 紀(jì)念贈(zèng)品

??最全面的H5質(zhì)量檢測(cè)

佑華科技的H5質(zhì)量檢測(cè)，最嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臏y(cè)試模塊，從sector 0到最后一個(gè)sector, 進(jìn)行寫(xiě)入測(cè)試，讀取測(cè)試，最后再將合格的卡片格式化：

讀取測(cè)試

H5的搭配選擇H3, 只做讀取測(cè)試-不會(huì)刪除原本的閃存卡內(nèi)的數(shù)據(jù)。

不刪除數(shù)據(jù)的讀寫(xiě)測(cè)試

只針對(duì)空白區(qū)域做讀寫(xiě)測(cè)試-不會(huì)刪除原本的數(shù)據(jù)，與H2 相同的檢測(cè)方式，跳過(guò)數(shù)據(jù)區(qū)，只檢測(cè)空白區(qū)域。

專(zhuān)業(yè)IC廠/隨身U盤(pán)制造廠最?lèi)?ài)的燒機(jī)測(cè)試

針對(duì)必需要做壽命/老化測(cè)試的專(zhuān)業(yè)廠商，佑華拷貝機(jī)的燒機(jī)測(cè)試絕對(duì)是最好的選擇，多種的彈性設(shè)定。

?可設(shè)定從30分鐘到30天

?可設(shè)定輪數(shù)

?可設(shè)定測(cè)試范圍

?可設(shè)定寫(xiě)入數(shù)據(jù)

不但將各種測(cè)試需求一應(yīng)包含，以往，需要準(zhǔn)備數(shù)十臺(tái)電腦來(lái)因應(yīng)老化測(cè)試的費(fèi)用加上操作及維護(hù)的人工成本，都可以大幅減少，口數(shù)愈大，效率愈高，只要1 臺(tái)119口的拷貝機(jī)，透過(guò)多核心傳輸技術(shù)，只要花一次的時(shí)間，就可以同時(shí)做119 pcs 的測(cè)試，一臺(tái)120口的拷貝機(jī)可抵30臺(tái)電腦的效能。

快速實(shí)際容量檢測(cè)

鑒于許多容量不足的隨身U盤(pán)/閃存卡在市場(chǎng)上，佑華利用獨(dú)特的技術(shù)，可替您辨識(shí)卡片的實(shí)際容量。

*此功能僅針對(duì)由開(kāi)卡程序造成的容量誤差

*由于市面上制作容量不足的卡片及技術(shù)繁多，恕實(shí)際容量檢測(cè)無(wú)法全面?zhèn)蓽y(cè)，建議使用檢測(cè)功能的最嚴(yán)謹(jǐn)?shù)腍5質(zhì)量檢測(cè)，可確保壞塊/不足容量無(wú)所遁形。

進(jìn)階假卡檢測(cè)

進(jìn)階的容量不足卡的檢測(cè)工具，以更嚴(yán)謹(jǐn)及更進(jìn)階的技術(shù)來(lái)挑出企圖以不足容量蒙混過(guò)關(guān)的閃存卡。

*此功能僅針對(duì)由開(kāi)卡程序造成的容量誤差

?量測(cè)內(nèi)存速度

只需8秒鐘，快速的得出隨身U盤(pán)/閃存卡的參考讀寫(xiě)速?度，在快速檢測(cè)的需求下，可做為一個(gè)數(shù)值參考的最佳工具。